• 発表日 2022/08/27
  • 2022年度 精密工学会 北海道支部 学術講演会 （2022年度学術講演会技術賞　受賞）
  • DOIコード －

光学解析を用いたアーチファクト推定手法の開発

X線CT装置を用いた非破壊検査では撮像時や再構成後に表れるアーチファクト(AF)が問題となる．解析的なアプローチによりAFが再現できると，発生要因の推定や低減手法の検討に役立てることができる．一方で，撮像時に影響する透過，吸収，反射等の特性はX線と同じ電磁波である光にも表れる．そこで本研究では，撮像時のX線と光の特性の類似性に着目し，光学解析を用いた疑似透過画像の生成を試みた．
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